更新時間:2022-07-19
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廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
生產(chǎn)地址:
品牌 | 豪恩 | 分類 | 高低溫試驗箱 |
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一、特點
高低溫測試機內(nèi)箱材料使用SU304不銹鋼板,具有耐酸、耐腐蝕易清洗特點;
樣品架可根據(jù)需要調(diào)節(jié)上下的位置;
箱門具備大視角保溫真空鋼化玻璃,便于用戶視察樣品試驗過程;
采用優(yōu)質(zhì)的門磁封條和保溫材料令整機性能更*;
具有合理的風(fēng)道循環(huán)系統(tǒng),使得箱體內(nèi)溫濕度達(dá)到高均勻性;
箱體左側(cè)配有測試引線孔;
供水系統(tǒng):采用自動補水功能,標(biāo)配水箱
二、高低溫測試機性能:
指氣冷式在室溫20℃,空載時
規(guī)格型號:HE-WS-80/100/150/225/408/800/1000(A、B、C、D、E)
容量:
80升內(nèi)箱尺寸(寬*高*深):400X500X400mm
150升內(nèi)箱尺寸(寬*高*深):500X600X500mm
225升內(nèi)箱尺寸(寬*高*深):600X750X500mm
408升內(nèi)箱尺寸(寬*高*深):600X850X800mm
800升內(nèi)箱尺寸(寬*高*深):1000X1000X800mm
1000升內(nèi)箱尺寸(寬*高*深):1000X1000X1000mm
溫度范圍:
A表示:0℃~+150℃,B表示:-20℃~+150℃,C表示:-40℃~+150℃,
D表示:-60℃~+150℃,E表示:-70℃~+150℃
溫度精度:±0.01℃
溫度波動度:±0.5℃
溫度均勻度:±2.0℃
濕度范圍:20%RH~98%RH
濕度精度:±0.1%R.H
濕度波動度:±2.0%R.H.
濕度均勻度:±3%R.H.
升溫速率:平均3℃/min(非線性、空載時;從常溫+25℃升至+85℃約20min);可按要求定制非標(biāo)規(guī)格
降溫速度:平均1℃/min(非線性、空載時;從常溫+25℃降至-40℃約65min);可按要求定制非標(biāo)規(guī)格
三、制冷工作原理
高低制冷循環(huán)均采用逆卡若循環(huán),該循環(huán)由兩個等溫過程和兩個絕熱過程組成。其過程如下:制冷劑經(jīng)壓縮機絕熱壓縮到較高的壓力,消耗了功使排氣溫度升高,之后制冷劑經(jīng)冷凝器等溫地和四周介質(zhì)進行熱交換,將熱量傳給四周介質(zhì)。后制冷劑經(jīng)閥絕熱膨脹做功,這時制冷劑溫度降低。最后制冷劑通過蒸發(fā)器等溫地從溫度較高的物體吸熱,使被冷卻物體溫度降低。此循環(huán)周而復(fù)始從而達(dá)到降溫之目的。
四、制冷系統(tǒng)
1.系統(tǒng)理念:采用業(yè)界的溫度平衡技術(shù)(制冷不加熱),通過能量調(diào)節(jié)技術(shù)在降溫及低溫平衡時不需要另外啟動加熱來平衡控溫。能量調(diào)節(jié)技術(shù)即PID控制調(diào)節(jié)制冷劑流量,通過調(diào)節(jié)控制單位時間內(nèi)進入蒸發(fā)器制冷劑的質(zhì)量,來達(dá)到精確控制制冷功率,從而精確控制試驗室的溫度。
2.相對以前“平衡控溫方式"即邊加熱邊制冷的方法,能耗非常大。而運用此技術(shù)可在Z大限度上降低客戶的運營成本和延長壓縮機的壽命,可在產(chǎn)品壽命周期內(nèi)可為用戶節(jié)約一筆不小的電費開支(因客戶實際使用頻率高低而已)
3.制冷硬件:采用“泰康"全封閉壓縮機。
4.制冷劑:采用環(huán)保制冷劑R404a,R23。
5.制冷蒸發(fā)器:采用波紋翅片制冷蒸發(fā)器,位于試驗箱一端的風(fēng)道夾層內(nèi),由鼓風(fēng)電機強制通風(fēng),快速換熱。
6.輔助件:本試驗箱制冷系統(tǒng)中其他輔助件,如電磁閥、過濾器等我公司也采用進口件;如采用意大利CAS的電磁閥、旁通閥等,其它配件也均選用國內(nèi)品牌的制冷配件。
7.低溫管路:低溫管路采用優(yōu)質(zhì)無氧銅管、充氮焊接(傳統(tǒng)方式采用普通銅管,直接焊接方式,易使銅管內(nèi)壁產(chǎn)生氧化物,造成制冷系統(tǒng)堵塞,使試驗箱不降溫或降溫慢)
在制冷系統(tǒng)底部設(shè)有凝結(jié)水接水盤,并排出箱外。
8.減振:采用壓縮機膠墊或彈簧減振措施;制冷系統(tǒng)管路采用增加R和彎頭的方式避免因振動和溫度的變化引起的銅管的變型,從而造成制冷系統(tǒng)管路破裂。
9.降噪:采用波浪狀的特種消音海綿吸音。
GB/T2423.1—2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程》 試驗A:低溫試驗方法經(jīng)環(huán)境試驗設(shè)備質(zhì)量監(jiān)督檢測中心檢測,符合“環(huán)境試驗設(shè)備技術(shù)條件"系列標(biāo)準(zhǔn)中的:
GB/T2423.2—2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程》 試驗B:高溫試驗方法
GB/T2423.4—2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程》 試驗Db:溫度變化試驗方法
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