一、設(shè)備用途:
HAST加速老化試驗(yàn)箱廣泛應(yīng)用于多層電路板、IC封裝、液晶屏、LED、半導(dǎo)體、磁性材料、NdFeB、稀土、磁鐵等材料的密封性能測試,對(duì)上述產(chǎn)品的耐壓力和氣密性進(jìn)行測試。
二、設(shè)備特點(diǎn):
1) 采用進(jìn)口耐高溫電磁閥雙路結(jié)構(gòu),上降低了使用故障率。
2) 獨(dú)立蒸汽發(fā)生室,避免蒸汽直接沖擊產(chǎn)品,以免造成產(chǎn)品局部破壞。
3) 門鎖省力結(jié)構(gòu),解決第一代產(chǎn)品圓盤式手柄的鎖緊困難的缺點(diǎn)。
4) 試驗(yàn)前排冷空氣;試驗(yàn)中排冷空氣設(shè)計(jì)(試驗(yàn)桶內(nèi)空氣排出)提高壓力穩(wěn)定性、再現(xiàn)性.
5) 超長效實(shí)驗(yàn)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)間,長時(shí)間實(shí)驗(yàn)機(jī)臺(tái)運(yùn)轉(zhuǎn)400小時(shí).
6) 水位保護(hù),透過試驗(yàn)室內(nèi)水位Sensor檢知保護(hù).
7) tank耐壓設(shè)計(jì),箱體耐壓力(150℃)2.65kg,符合水壓測試6kg.
8) 二段式壓力安全保護(hù)裝置,采兩段式結(jié)合控制器與機(jī)械式壓力保護(hù)裝置.
9) 安全保護(hù)排壓鈕,警急安全裝置二段式自動(dòng)排壓鈕 .
10) 偏壓測試端子耐壓可達(dá)3000V(選配)
11) USB導(dǎo)出歷史記錄數(shù)據(jù),曲線.
三、主要技術(shù)參數(shù):
設(shè)備型號(hào): HE-HAST-40
圓形內(nèi)箱尺寸: 直徑Φ400×深500(mm)
溫度范圍: +100℃~+132℃( 蒸氣溫度 )
溫度波動(dòng)度: ±0.5℃
溫度顯示精度: 0.1℃
濕度范圍: 70~100% 蒸氣濕度
濕度控制穩(wěn)定度: ±3%RH
使用壓力: 1.2~2.89kg(含1atm)
壓力波動(dòng)均勻度: ±0.1Kg
時(shí)間范圍: 0 Hr~999Hr
加壓時(shí)間: 0.00 Kg~1.04 Kg/cm² 約 45 分
控制器: PLC可程式彩色觸摸屏控制
內(nèi)桶材質(zhì): SUS316#不銹鋼板
外箱材質(zhì): SECC冷鋼板高溫烤漆處理
使用電源: 單相 220V 20A 50/60Hz
安全保護(hù): 超壓保護(hù),超溫保護(hù),缺水保護(hù)等
水質(zhì)要求: 純水或蒸餾水(用戶自備)